PEEK高性能探針組件
來(lái)源：peek板材供應(yīng)商-恒鑫實(shí)業(yè) 作者：PEEK板材加工
PEEK探針主要類(lèi)型：懸臂PEEK探針和垂直P(pán)EEK探針。
懸臂PEEK探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）
垂直P(pán)EEK探針：垂直型（Vertical Type）
PEEK高性能探針組件|PEEK板加工|PEEK棒加工
1.ICT探針 （ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．
2.界面PEEK探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶(hù)定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．
3.微型PEEK探針（MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開(kāi)關(guān)PEEK探針（Switch Probes)
開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．
5.高頻PEEK探針（Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以?xún)?nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)
彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試．
7.高電流PEEK探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體PEEK探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸PEEK探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)．
10.汽車(chē)線束測(cè)試測(cè)試PEEK探針
專(zhuān)業(yè)用于汽車(chē)線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用．
